PL EN

Cyfrowa Korelacja Obrazu (CKO)

Wykorzystywane instrumenty:
  1. 3D i 2D VIC

    producent: Correlation Solutions

    parametry: Pomiary przemieszczeń u,v,w, kształtu i odkształceń. Pole pomiarowe od kilku mm2 do kilku m2, czułość pomiarowa od pojedynczych m do pojedynczych mm

    opis: www.correlatedsolutions.com

  2. 2D i 3D DIC

    producent: IMiF PW

    parametry: Pomiary przemieszczeń u,v,w, kształtu i odkształceń. Pole pomiarowe od kilku mm2 do kilku m2, czułość pomiarowa od pojedynczych m do pojedynczych mm. Możliwość długoterminowego monitorowania zmian w obiekcie

    opis: M. Malesa et al., Proc. of SPIE Vol. 8084, 80840L (2011); K. Malowany et al., Applied Optics , Vol. 53, (9), 1739-1749 (2014)

  3. 2D i 3D DIC+IR

    producent: IMiF PW

    parametry: Pomiary jak p.2 połączone z polowym monitorowaniem rozkładu temperatur w obiekcie

    opis: -

Rodzaje zabytków podlegających badaniu:
Stosowalność metody z uwagi na materiał obiektu
a. Podłoże lub główny budulec dzieła sztuki
b. Materiały tworzące warstwy dekoracyjne dzieła sztuki
Rodzaj badania
a. Rodzaj pozyskiwanej informacji
b. Obszar działania
Stopień ingerencji w strukturę obiektu
Dysponent instalacji
instytucja: Politechnika Warszawska
wydział/oddział: Instytut Mikromechaniki i Fotoniki
adres: Sw. Andrzeja Boboli 8, 02-525 Warszawa
osoba do kontaktu: tytuł/stopień, imię i nazwisko: prof. dr hab.. Inz. Małgorzata Kujawinska
email: m.kujawinska@mchtr.pw.edu.pl
telefon: 22 6608489 , 602240310
Możliwość współpracy lub wykorzystania*

*oznaczenie powyższych opcji nie stanowi oferty w znaczeniu prawa handlowego