PL EN

Interferometria plamkowa

Wykorzystywane instrumenty:
  1. konstrukcja własna

    producent: IJH PAN

    parametry: Mierzy pole odkształceń w jednym kierunku z dokładnością do 20nm

    opis: Ilościowa analiza defektów powierzchni - pęknięcia i odspojenia warstw powierzchniowych.

Rodzaje zabytków podlegających badaniu:
Stosowalność metody z uwagi na materiał obiektu
a. Podłoże lub główny budulec dzieła sztuki
Rodzaj badania
a. Rodzaj pozyskiwanej informacji
b. Obszar działania
Stopień ingerencji w strukturę obiektu
Dysponent instalacji
instytucja: Instytut Katalizy i Fizykochemii Powierzchni im. Jerzego Habera PAN
adres: Niezpominajek 8.
osoba do kontaktu: tytuł/stopień, imię i nazwisko: Prof. Roman Kozłowski
email: nckozlow@cyf-kr.edu.pl
telefon: 126395190
Możliwość współpracy lub wykorzystania*

*oznaczenie powyższych opcji nie stanowi oferty w znaczeniu prawa handlowego