1. Spektrometr XRF

   producer: IMP PAN

   parameters : - czułość: 60 - 150 ppm - głębokość penetracji ~ 10-90 μm, zależna od materiału - ogniskowanie 4;3;2 mm (wybieralna kolimatorami) - zakres pomiarowy ZA: K(19) - U(92), - rozdzielczość energetyczna: 155 eV dla linii 5,9 keV Mn Kα - czas zliczania pojedynczego widma ~120s - wzbudzanie: lampa rtg (anoda - W; UA: 20-60 kV) - detektor: SDD chłodzony termoelektrycznie, pozycjoner laserowy

   description: - nieinwazyjne i bezkontaktowe określenie składu pierwiastkowego - natychmiastowa analiza materiałów

• easel painting
• wall painting
• wooden sculpture (polychrome)
• other sculpture
• stained glass
• other historical glass
• objects on paper and parchment
• metal objects
• ceramics
• fabric (w ograniczonym zakresie)

notes: zakres badawczy dotyczy pierwiastków od potasu do uranu; OGR: badania dotyczą np. reliktów nici z oplotem metalowym

a. The substrate or construction material

• wood
• canvas
• metal
• paper
• parchment
• glass
• stone
• brick
• bone

notes: W przypadku podłoża- głębokość wnikania wiązki rtg. w materiał wynosi od 10 do 90 m, zależna od materiału

b. Components of decorative layers

• pigments and mineral fillers

a. Type of information acquired

• identification of elemental composition

b. The size of examination area

• examination at a point of

• Examination is non-invasive
• Examination can be carried out at the place of storage of the object

institution: Instytut Maszyn Przepływowych PAN
faculty/department: Zakład Fotofizyki
address: Ul. Fiszera 14, 80-231 Gdańsk
contact person: title/degree, name and family name: dr hab. inż. Mirosław Sawczak, dr hab. Rafał Jendrzejewski, prof. dr hab. inż. Gerard Śliwiński
email: mireks@imp.gda.pl, rafj@imp.gda.pl, gerards@imp.gd
phone: 58 5225294, 58 5225193, 58 5225157

• looking for partners for scientific collaboration
• we can performed examinations based on the fixed price list
• we can performed examinations based on the mandate contract