1. Spektrometr XRF

   producent: IMP PAN

   parametry: - czułość: 60 - 150 ppm - głębokość penetracji ~ 10-90 μm, zależna od materiału - ogniskowanie 4;3;2 mm (wybieralna kolimatorami) - zakres pomiarowy ZA: K(19) - U(92), - rozdzielczość energetyczna: 155 eV dla linii 5,9 keV Mn Kα - czas zliczania pojedynczego widma ~120s - wzbudzanie: lampa rtg (anoda - W; UA: 20-60 kV) - detektor: SDD chłodzony termoelektrycznie, pozycjoner laserowy

   opis: - nieinwazyjne i bezkontaktowe określenie składu pierwiastkowego - natychmiastowa analiza materiałów

• malarstwo sztalugowe
• malarstwo ścienne
• rzeźba drewniana (polichromowana)
• rzeźba pozostała
• witraż
• pozostałe szkoło zabytkowe
• zabytki na papierze i pergaminie
• obiekty metalowe
• ceramika
• tkaniny (w ograniczonym zakresie)

uwagi: zakres badawczy dotyczy pierwiastków od potasu do uranu; OGR: badania dotyczą np. reliktów nici z oplotem metalowym

a. Podłoże lub główny budulec dzieła sztuki

• drewno
• płótno
• metal
• papier
• pergamin
• szkło
• kamień
• cegła
• kość

uwagi: W przypadku podłoża- głębokość wnikania wiązki rtg. w materiał wynosi od 10 do 90 m, zależna od materiału

b. Materiały tworzące warstwy dekoracyjne dzieła sztuki

• pigmenty i wypełniacze mineralne

a. Rodzaj pozyskiwanej informacji

• identyfikacja składu pierwiastkowego

b. Obszar działania

• badanie w punkcie

• badanie jest nieinwazyjne
• badanie może być przeprowadzone w miejscu przechowywanie obiektu

instytucja: Instytut Maszyn Przepływowych PAN
wydział/oddział: Zakład Fotofizyki
adres: Ul. Fiszera 14, 80-231 Gdańsk
osoba do kontaktu: tytuł/stopień, imię i nazwisko: dr hab. inż. Mirosław Sawczak, dr hab. Rafał Jendrzejewski, prof. dr hab. inż. Gerard Śliwiński
email: mireks@imp.gda.pl, rafj@imp.gda.pl, gerards@imp.gd
telefon: 58 5225294, 58 5225193, 58 5225157

• poszukujemy partnerów do współpracy naukowej
• wykonujemy badania komercyjne (w oparciu o ustalony cennik)
• możemy wykonać badanie w ramach umowy-zlecenia