producent: Renishaw

parametry: - laser diodowy λ = 785 nm, 300 mW cw lub laser argonowy λ = 514 nm, 30 mW - wielkość plamki laserowej: 1 - 300 μm - pomiar widma w zakresie od 100 do 3200 cm-1 - regulacja mocy wiązki lasera: 0.1% - 100% przy użyciu zestawu filtrów - 2 siatki dyfrakcyjne: 1200, 600 linii/mm - obiektywy:x5, x20, x50, x100 oraz LWD (x20, odległość robocza 12 mm) - manipulator XYZ, rozdzielczość 0,1 μm, funkcje mapowania, profilowania warstwowego - kamera CCD o zwiększonej czułości w zakresie UV oraz NIR - system pomiarów konfokalnych „easy confocal” - sterowanie systemu - Wire 3.0 + bazy danych oraz wyszukiwarka Library Search

opis: - wykorzystuje zjawisko rozpraszania Ramana do identyfikacji składu chemicznego oraz struktury materiałów - metoda nieniszcząca - szybka identyfikacja substancji w oparciu o biblioteki widm charakterystycznych - próbki nawet o wielkości kilkudziesięciu mikrometrów - automatyczne mapowanie rozkładu badanej substancji na powierzchni próbki - stratygrafia wielowarstwowych materiałów kompozytowych