1. dwa zestawy spektrometryczne z detektorami półprzewodnikowymi Si(Li),

   producent: ORTEC

   parametry: Powierzchnia czynna – 80 mm2, grubość – 5 mm, zdolność rozdzielcza 180 eV dla linii MnKα o energii 5,9keV

   opis: Analiza zarejestrowanych widm wzbudzonego promieniowania rentgenowskiego wykonuje się przy pomocy programów AXIL-QXAS , opracowanych i rozpowszechnianych przez MAEA w Wiedniu. W przypadku TXRF konieczność

• malarstwo sztalugowe
• malarstwo ścienne
• rzeźba drewniana (polichromowana)
• rzeźba pozostała
• witraż
• pozostałe szkoło zabytkowe
• zabytki wykonane ze skóry
• obiekty metalowe
• ceramika

a. Podłoże lub główny budulec dzieła sztuki

• drewno
• płótno
• metal
• szkło
• kamień
• cegła
• kość
• bursztyn

b. Materiały tworzące warstwy dekoracyjne dzieła sztuki

• pigmenty i wypełniacze mineralne
• kamienie szlachetne i półszlachetne

a. Rodzaj pozyskiwanej informacji

• identyfikacja składu pierwiastkowego

• badanie jest nieinwazyjne
• badanie może być przeprowadzone wyłącznie w laboratorium

instytucja: Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
wydział/oddział: Laboratorium Badań Materiałowych
adres: ul. Dorodna 16, 03-195 Warszawa
osoba do kontaktu: tytuł/stopień, imię i nazwisko: Mgr inż. Ewa Pańczyk
email: e.panczyk@ichtj.waw.pl
telefon: 22 504 11 14

• poszukujemy partnerów do współpracy naukowej
• możemy wykonać badanie w ramach umowy-zlecenia
• możemy wykonać badanie bezpłatnie (w ograniczonym zakresie)

uwagi: możemy wykonać badanie bezpłatnie - przy wstępnych badaniach