PL EN

Skaningowa Mikroskopia Elektronowa z mikroanalizą rentgenowską w trybie EDS (SEM(EDS))

Wykorzystywane instrumenty:
  1. EDS model: QUANTAX 400

    producent: Bruker, Niemcy

    parametry: System wyposażony jest w SDD detektor XFlash®4010 o rozdzielczości 127 eV bez konieczności chłodzenia ciekłym azotem

    opis: Pozwala na szybkie jakościowe i ilościowe określenie składu [pierwiastkowego w zakresie od bou (5) do ameryku(95). Możliwości badawcze: punktowa analiza składu wydzieleń, obszarów pojedynczych ziaren i cienkich warstw, mapping, LSP ( Line Scan Profile). Analizy mogą być przeprowadzane w trybie bezwzorcowym ( na bazie własnej biblioteki widm) lub z wykorzystaniem wzorców. Posiadamy zestaw standardów referencyjnych do mikroanalizy rentgenowskiej obejmujący czyste pierwiastki, stopy, związki chemiczne oraz minerały.

Rodzaje zabytków podlegających badaniu:
Stosowalność metody z uwagi na materiał obiektu
a. Podłoże lub główny budulec dzieła sztuki
b. Materiały tworzące warstwy dekoracyjne dzieła sztuki
Rodzaj badania
a. Rodzaj pozyskiwanej informacji
b. Obszar działania
Stopień ingerencji w strukturę obiektu
Dysponent instalacji
instytucja: Instytut Chemii i Techniki Jądrowej
wydział/oddział: Laboratorium Badań Materiałowych
adres: ul. Dorodna 16, 03-195 Warszawa
osoba do kontaktu: tytuł/stopień, imię i nazwisko: Dr inż. Bożena Sartowska
email: b.sartowska@ichtj.waw.pl
telefon: 22 504 11 12
Możliwość współpracy lub wykorzystania*

*oznaczenie powyższych opcji nie stanowi oferty w znaczeniu prawa handlowego