Scanning Electron Microscopy with microanalysis using energy dispersive spectroscopy (SEM(EDS))
- SEM model DSM942
producer: Zeiss, Niemcy
parameters : Powiększenie w zakresie X20 do X 20 000; zdolność rozdzielcza 4nm przy 30kV oraz 25 nm przy 1kV; dzięki obszernej komorze roboczej ze stolikiem przesuwanym w zakresie 80 mmm, można analizować próbki o stosunkowo dużych rozmiarach. Posiada trzy detektory- możliwość obserwacji w trybie SE(secondary electrons), BSE (backscattered electrons) i CL – katoluminescencja.
description: Pozwala na badanie i analizowanie morfologii powierzchni, przełomów, zgładów badanych materiałów; umożliwia stwierdzenie obecności wydzielin, warstw, charakterystycznych obiektów morfologicznych oraz wykonanie pomiarów elementów struktury. Oprogramowanie pozwala na dokonywanie pomiarów obserwowanych obiektów bezpośrednio na ekranie oraz cyfrowy zapis dokumentacji fotograficznej
- easel painting
- wall painting
- wooden sculpture (polychrome)
- other sculpture
- stained glass
- other historical glass
- leather objects
- metal objects
- ceramics
- objects made of plastic and other contemporary materials
- amber
- fabric
- wood
- canvas
- metal
- glass
- stone
- brick
- bone
- amber
- pigments and mineral fillers
- organic dyes
- precious and semi-precious stones
- identification of elemental composition
- recognition of the internal structure (eg. layered) of artwork
- examination at a point of
- information obtained from an area (imaging)
- Examination requires a sample which is not destroyed during the study
- Examination may be carried out only in the laboratory
faculty/department: Laboratorium Badań Materiałowych
address: ul. Dorodna 16, 03-195 Warszawa
contact person: title/degree, name and family name: Dr inż. Bożena Sartowska
email: b.sartowska@ichtj.waw.pl
phone: 22 504 11 12
- looking for partners for scientific collaboration
- we can performed examinations based on the mandate contract
*the options above do not constitute an offer within the meaning of commercial law