PL EN

Skaningowa Mikroskopia Elektronowa z dyfrakcją elektronów wstecznie rozproszonych EBSD (SEM-EBSD)

Wykorzystywane instrumenty:
  1. Nordlys HKL Technology

    producent: HKL Technology

    opis: Analiza krystalografii ziaren metodą dyfrakcji elektronów.

Rodzaje zabytków podlegających badaniu:
Stosowalność metody z uwagi na materiał obiektu
a. Podłoże lub główny budulec dzieła sztuki
Rodzaj badania
a. Rodzaj pozyskiwanej informacji
b. Obszar działania
Stopień ingerencji w strukturę obiektu
Dysponent instalacji
instytucja: Akademia Górniczo-Hutnicza w Krakowie (Centrum Badań Nawarstwień Historycznych)
wydział/oddział: Wydział Metali Nieżelaznych
adres: al. Mickiewicza 30, 30-059 Kraków
osoba do kontaktu: tytuł/stopień, imię i nazwisko: dr inż. Aldona Garbacz-Klempka; dr inż. Małgorzata Perek-Nowak
email: agarbacz@agh.edu.pl; mperek@agh.edu.pl
telefon: 12 617 2774; 12 617 4599
Możliwość współpracy lub wykorzystania*

*oznaczenie powyższych opcji nie stanowi oferty w znaczeniu prawa handlowego